常元滢扫描电镜样品制备流程图

扫描电镜(SEM)是一种广泛用于表征材料微观结构和成分的显微镜。SEM样品制备的流程对于获得高质量的SEM图像至关重要。本文将介绍扫描电镜样品制备的流程图,包括样品前处理、样品制取和样品处理过程。

1. 样品前处理

在SEM样品制备之前,需要对样品进行前处理以去除不必要的材料。通常使用磁悬浮技术或化学处理方法进行样品前处理。例如,对于金属样品,可以使用磁悬浮技术将其分离成单个颗粒。对于半导体样品,可以使用化学处理方法将其表面氧化或还原以改变其表面状态。

2. 样品制取

在样品前处理完成后,需要将样品制取为适合SEM观察的形状。制取过程可以使用各种机械或化学方法。例如,可以使用磨机将样品细化,或使用腐蚀剂将样品表面处理成凹坑或槽。对于某些样品,可以通过喷涂或化学气相沉积的方法将其制备为薄膜。

3. 样品处理

在将样品制取为适合SEM观察的形状后,需要对其进行处理以获得最佳的SEM图像。处理过程包括以下步骤:

- 清洁样品表面:使用清洁剂和软布清洁样品表面,以去除任何前处理过程中可能留下的杂质。
- 涂抹样品:将样品涂布在SEM试样台上,并轻轻压实。
- 烘干样品:将样品置于适当的烘箱中,以将其烘干至适当的硬度。
- 样品固定:将样品固定在SEM载物台上,并使用夹具将其固定。
- 扫描电镜样品制备流程图:

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