常元滢扫描电镜两种模式

纳瑞科技（北京）有限公司(Ion Beam Technology Co.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。

扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种常用的电子显微镜,可以对样品进行高分辨率的三维成像。SEM有两种工作模式,分别是扫描模式和透射模式。在扫描模式下,SEM将扫描针(也称为扫描探针)在样品表面移动,以获取样品表面的信息。在透射模式下,SEM使用X射线透过样品,以获取样品内部的结构信息。

扫描模式

扫描模式是SEM最常用的模式之一。在这种模式下,样品表面被置于SEM的扫描区域内,扫描针在样品表面移动,以获取样品的表面信息。扫描针可以被设计成不同的形状和大小,以适应不同的样品。例如,如果我们需要观察微小的细胞结构,则需要使用较小的扫描针。

扫描模式下的优点包括:

- 可以观察到样品的表面结构和形态,这对于观察样品的基本结构和形状非常有用。
- 扫描针可以在样品表面移动,因此可以更仔细地观察样品表面。
- 扫描模式可以提供高分辨率的成像,因此可以观察到样品的微小结构。

透射模式

透射模式是SEM的另一种工作模式。在这种模式下,SEM使用X射线透过样品,以获取样品内部的结构信息。透射模式通常用于观察较厚样品的内部结构,例如金属、陶瓷和半导体等。

透射模式下的优点包括:

- 可以观察到样品内部的结构,这对于观察样品的内部结构和化学成分非常有用。
- 透射模式可以提供高分辨率的成像,因此可以观察到样品的微小结构。
- 透射模式下的成像不需要对样品进行移动,因此可以更方便地观察样品。

结论

SEM有两种工作模式,分别是扫描模式和透射模式。扫描模式可以用来观察样品的表面结构和形态,透射模式可以用来观察样品的内部结构。这两种模式都有其优点和适用范围,因此需要根据需要选择适当的工作模式。同时,还需要注意选择合适的扫描探针和样品制备方法,以获得最佳的成像效果。

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